KIỂM TRA TẠI // HA.WK LABS • ISO 517 • ISO 8478 • CIE V(λ)
Hệ thống trắc quang đo lường & lưu trữ chứng chỉ T-Stop quang học chuẩn quốc tế ISO 517:2008 (Hình học khẩu độ), ISO 8478:2017 (Độ truyền quang phổ) & CIE V(λ) đang trong giai đoạn hoàn thiện cơ sở dữ liệu và tích hợp máy đo thời gian thực.
| MÃ BÁO CÁO | NGÀY KIỂM TRA | TÊN ỐNG KÍNH | SỐ SERIAL | KHÁCH HÀNG | CHUẨN NGÀM | ĐÁNH GIÁ | THAO TÁC |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Đang tải dữ liệu từ máy chủ HA.WK LABS... | |||||||
Nhập thông tin xác thực để mở toàn bộ cổng tra cứu và quản lý dữ liệu.
THÔNG TIN THIẾT BỊ
Khách hàng:
Đơn vị thực hiện: KIỂM TRA TẠI // HA.WK LABS
Người kiểm tra:
Tiêu chuẩn: ISO 517 • ISO 8478 • CIE V(λ)
Dung sai: Master Grade (±0.03 EV)
Kết luận: PASS
TIÊU CHUẨN & KẾT LUẬN
Số Serial:
Ngàm Lens:
Ngày kiểm tra:
BẢNG ĐỐI SOÁT VẠCH KHẨU ĐỘ T-STOP ĐO THỰC TẾ
| Vạch Khẩu (Nominal) | T Đo Thực Tế | Sai Số (EV) | S35 Falloff (%) | FF Falloff (%) | Đánh Giá |
|---|
ĐỒ THỊ PHÂN BỐ RƠI SÁNG QUANG HỌC (RELATIVE ILLUMINATION FALLOFF)